芯片描述
芯片特點
| ○ | 8 位CPU | ○ | 2.4V~3.6V 工作電壓范圍；-40~85℃工作溫度范圍 | |
| ○ |
內(nèi)部高精度RC（可校準）、低功耗RC，支持外部晶振，不同工作模式選擇 運行模式1：<2mA@CRY 8MHz @CPU 8MHz 運行模式2：<550μA@RC 4MHz @CPU 4MHz 運行模式3：<400μA@RC 4MHz @CPU 2MHz 休眠模式：2μA |
○ | 6k Words OTP（One Time Programmable）程序存儲器，384Byte數(shù)據(jù)存儲器 | |
| ○ | 掉電檢測及WDT，可防止CPU 進入死循環(huán) | ○ |
高解析度ΣΔADC模數(shù)轉(zhuǎn)換器： 零輸入電壓，零輸出電壓；高輸入阻抗（內(nèi)置輸入緩沖器）；內(nèi)置絕對溫度檢測器 |
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| ○ | 1.2V 內(nèi)部類比電路共地電壓源 | ○ | LVD 低電壓檢測功能，14 段檢測電壓設(shè)置與外部輸入電壓檢測功能 | |
| ○ |
可程序化多功能網(wǎng)絡(luò) 電壓/電阻/電容換擋測量，定電壓/定電流輸出，元件可自我校正，元件正負極性判別 |
○ |
4×15 LCD液晶驅(qū)動器 Static、1/2、1/3、1/4 Duty 及1/3 Bias 內(nèi)置Charge Pump 穩(wěn)壓線路，可提供4 種LCD 偏壓 |
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| ○ | 20 個IO 端口 | ○ | 8-bit Timer A：8-bit Timer C 具有PWM/PFM 波形產(chǎn)生功能 | |
| ○ |
多功能比較器 具有遲滯與Latch 功能，可降低glitch；可程序化設(shè)定比較電壓；可作為短路測試，頻率測量或電容充放電頻率測量 |
○ | 模擬電壓源VDDA 可選擇4 種輸出電壓，具有10mA 穩(wěn)壓電壓源輸出能力 | |
| ○ | UART 模組 | ○ | 支持6 級堆棧 | |
| ○ | 支持BIE 功能，結(jié)合燒錄子程序，可以省去外部EEPROM芯片 | ○ | 內(nèi)置1.111MΩ、101KΩ、10KΩ、1KΩ 比例電阻，可分別選擇啟用內(nèi)置或外置 | |
| ○ | 封裝形式：LQFP64封裝、軟封 |
芯片框圖
應(yīng)用方案
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